TH2883系列產品是同惠研發的脈沖式線圈測試儀產品線。可完整提供低壓30V到高壓10kV，單通道到多通道（最大8通道）系列線圈測試儀解決方案。

該產品線采用當前主流32bit CPU和高密度 SMD貼裝工藝，65k色的7寸寬屏TFT顯示器。操作功能簡潔易用，顯示界面清新亮麗。最小30V，最高10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感量的線圈測試，高達200Msps的采樣率，6k Bytes的存儲深度，讓您的測試“無微不至"。

TH2883系列根據輸出電壓不同分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種單通道輸出的型號。TH2883-1是低電感脈沖式線圈測試儀，具有最小30V、最高1200V的脈沖電壓，可測試低至1uH電感量的線圈，是開關電源等所用電感線圈的理想測試產品。TH2883-5具有100V-5000V的寬范圍脈沖電壓，是測試各種線圈的標配產品。TH2883-10具有最高10kV的脈沖輸出電壓，可測試更高絕緣耐壓的匝間測試。若配備TH28831匝間絕緣多路掃描儀可將上述三款單通道測試儀擴展為10通道。

TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測試的一體機，他們所對應的型號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5供用戶靈活選擇。

TH2883系列產品標配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您圖形的快速保存，又方便您進行遠程控制。

功能特點

A. 線圈性能分析

線圈類產品（如變壓器、電機等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會產生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。TH2883系列脈沖式線圈測試儀通過比較被測線圈的衰減振蕩波型與標準波形來判定該繞組的電感、品質因素（Q值）、繞組的圈數差、匝間層間短路，在有導磁材料的情況下還能判斷其材質的差別，高壓脈沖下電暈放電的發生還可以對繞組層間或多個繞組間絕緣不良進行判定。

圖A-1中的自激振蕩衰減波形直接和線圈的電感值 L 及品質因素 Q 值有著密切的關系，而 L 值及 Q 值又和線圈的圈數、制造工藝、是否空心線圈并且還與導磁材料特性又有著不可分割的關系。由于施加電壓是高壓脈沖電壓，因此，線圈短路、匝間局部短路或由于絕緣損傷引起的層間或匝間電暈放電現象自然很容易被發現。

B. 四種波形判斷方法

a) 面積比較方法

如圖 B-1 所示，在任意設定的 A～B 區間內對被測線圈測試波形面積進行(積分)計算，并與標準波形在此區間內的面積進行比較，用這兩個波形面積的差異值與標準波形在此區間的面積的百分比作為判定依據，判定基準用百分比來設定。

波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測線圈層間和匝間短路。

b) 面積差比較方法

如圖 B-2 所示，在任意設定 A～B 區間內對被測線圈測試波形和標準波形的 Y 軸方向的差異值進行計算(積分計算的結果為 A～B 區間內的陰影部分)和標準波形在此區間的面積比較，基準用百分比來設定。

面積差比較方法主要表現了電感量 L 的差異和能量的損耗，這個比較方法可以有效的檢測標準線圈和被測線圈的電感量 L 的差異。

c) 電暈比較方法

如圖 B-3 所示，與波形的差異無關，在任意設定的 A～B 區間內，僅在被測線圈測試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進行無損提取，并將計算結果與設定值進行比較， 判定電暈放電量是否合格，設定值是一個整數。

此方法對線圈內部絕緣性能反應較明顯。對于線圈絕緣性能要求高的場合需要使用電暈比較方法，因為絕緣性能的好壞直接影響線圈產品的使用壽命到長短。

d) 相位差比較方法

如圖 B-4 所示，用戶可以設定一個需要作比較的過零點，儀器判斷被測線圈測試波形和標準波形在這個過零點的偏移量，然后和標準波形的振蕩周期作比較，并用這兩個量的百分比作為判斷依據，基準用百分比來設定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標準波形振蕩周期，設定的是比較波形的第3個過零點。

此方法主要用來反映電感量差異。線圈不良可以用相位差來判別。

面積比較主要是根據能量損失，能夠很有效地進行層間短路和圈對圈的檢測，而電暈則是以發現線圈內部絕緣缺陷為目的的檢測方法。另外需要考慮電感值問題的話，可以增加面積差來比較判定。

磁芯材料差異可以用面積、面積差和電暈方法來判別。對馬達、螺線管、繼電器等大部分線圈，采用面積比較和電暈測試方法。

C. 破壞測試功能

通過對線圈施加上升步進電壓，結合電暈放電的情況來判斷被測件的極限耐壓值。

D. 多通道測試

TH2883系列提供4通道與8通道兩款多路測試的一體機，他們所對應的型號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還提供一款將單通道測試儀擴展為10通道的掃描擴展器供用戶靈活選擇。多路測試儀的應用可以提高對三相四線或三項三線繞組的測試效率，一次測試多個繞組，解決多次切換繞組的煩惱。